XRE DynaTOM 超高速扫描微米分辨率X射线显微镜/CT

XRE DynaTOM 超高速扫描微米分辨率X射线显微镜/CT

添加时间:2017-09-30 11:56:00

独特技术优点

- 专为高速4D(三维图像+时间)成像而设计:是全球第一台商品化的高速扫描微米分辨率系统。

- 快速连续数据采集:X射线源和探测器围绕样品连续旋转,快速连续采集数据,10秒钟之内完成一个360°扫描。

- 空间分辨率高达2微米。

- 为原位实验动态实验优化设计。

- 4D数据采集软件。




 主要技术参数

X射线源

130 kV / 35W

X射线探测器

平板探测器,像素1900 x 1500

空间分辨率

2 μm (JIMA分辨率测试板)

最大样品尺寸 (Ø x h)

200 mm x 500 mm 

最大CT视场 (Ø x h)

100 mm x 300 mm

最大样品重量

50 kg

最大时间分辨率

<  10 seconds

样品台自动化

6样品台,安装在高精度大理石基座上

设备外形尺寸

约1.5 x 1.5 x 2.1 m (WxLxH) 

设备重量

约3200 kg 

 


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