提供全方位的电镜附件、制样设备及耗材
XRE最新技术微米分辨率X射线显微镜/CT
NanoMegas
TEM旋进电子衍射分析平台、电子衍射三维重构和晶体学分析、纳米分辨率晶体取向分析和相分布分析、纳米非晶相分布分析、纳米分辨率晶体应变分析
FISCHIONE
纳米离子减薄仪、离子减薄仪、等离子清洗仪、氩离子抛光仪、电解双喷仪等常规制样设备、TEM样品杆(三维重构样品杆、冷冻转移样品杆等)
RMC
超薄切片机、冷冻超薄切片机、玻璃制刀机、组织处理仪等
我们做什么?
XRE
最新技术的微米分辨率X射线显微镜/CT，包括通用型500nm分辨率UniTOM、超高速扫描微米分辨率DynaTOM和专为大尺寸岩心高分辨扫描的CoreTOM。
Protochips
TEM原位分析系统：
- 原位加热和电学系统
- 原位加热和气体反应腔
- 原位液体加热和电化学系统
产品列表PRODUCTS
-
ATMOSPHERE 原位加热和气体反应腔在TEM内实现气体和加热环境
兼容任何电镜
-
POSEIDON SELECT 原位液体加热和电化学系统在TEM上直接观察液体中你从未想过可能看到的东西
液体中纳米颗粒的分布与组成
-
FUSION 原位加热和电学系统材料研究：热性能和电性能表征
分析结果与TEM & SEM成像以及其他分析工具相关联
-
Model 1040 NanoMill 纳米减薄仪Model 1040 NanoMill TEM Specimen Preparation System
-
Model 1051 离子减薄仪Model 1051 TEM Mill Ion-milling System
-
Model 1061 氩离子抛光仪最新发布的氩离子抛光仪
-
Model 1070 NanoClean 等离子清洗仪Model 1070 NanoClean 等离子清洗仪
-
Model 1050 离子减薄仪Model 1050 TEM Mill System
-
Model 1020 等离子清洗仪Model 1020 Plasma Cleaner
-
Model 1060 氩离子抛光仪Model 1060 SEM Mill System 氩离子抛光仪
-
XRE UniTOM 通用型500nm分辨率X射线显微镜/CT模块化设计、配置灵活的亚微米分辨率3D X射线成像系统
-
XRE DynaTOM 超高速扫描微米分辨率X射线显微镜/CT全球扫描速度最快的微米分辨率三维X射线成像显微镜CT，几秒内完成一个扫描
本网站由阿里云提供云计算及安全服务