全方位的电镜附件、制样设备及耗材
Lyncean CLS紧凑型实验室同步辐射光源
TESCAN-XRE微米分辨率X射线显微镜/CT
NanoMEGAS
TEM旋进电子衍射分析平台、电子衍射三维重构和晶体学分析、纳米分辨率晶体取向分析和相分布分析、纳米非晶相分布分析、纳米分辨率晶体应变分析
RMC
超薄切片机、冷冻超薄切片机、玻璃制刀机、组织处理仪等
我们做什么?
XRE
较新技术的微米分辨率X射线显微镜/CT,包括通用型500nm分辨率UniTOM、超高速扫描微米分辨率DynaTOM和专为大尺寸岩心高分辨扫描的CoreTOM。
Protochips
TEM原位分析系统:
- 原位加热和电学系统
- 原位加热和气体反应腔
- 原位液体加热和电化学系统
Quantum Detectors
MerlinEM混合像素探测器,在TEM上实现24bit动态范围 600fps 或12bit 1200fps的高速电子衍射花样的采集
为大学、研究机构、半导体工业、工业研发等用户提供全面服务
生命科学
服务领域
全系列常温/冷冻超薄切片机
TEM混合像素探测器
Tomography 三维重构样品杆
冷冻转移Tomography样品杆
组织处理仪
自动染色机
高压冷冻仪
微米分辨率X射线显微镜/CT
实验室工具和耗材、包埋剂等
全系列超薄切片机
(可选冷冻附件)
组织处理仪
自动染色机
高压冷冻仪
微米分辨率X射线显微镜/CT
实验室工具和耗材、包埋剂等
生命科学
材料科学
TEM混合像素探测器
全系列TEM制样设备
TEM样品杆
TEM原位分析系统
TEM旋进电子衍射分析平台
SEM样品离子抛光系统
SEM纳米电学分析平台
微米分辨率X射线显微镜/CT
实验室工具和耗材
分析测试中心
TEM混合像素探测器
全系列TEM制样设备
TEM原位分析系统
全系列常温/冷冻超薄切片机
TEM旋进电子衍射分析平台
SEM纳米电学分析平台
微米分辨率X射线显微镜/CT
实验室工具和耗材
半导体及封装
TEM制样系统
TEM旋进电子衍射分析平台
SEM纳米电学分析平台
微米分辨率X射线显微镜/CT
实验室工具和耗材
微米分辨率X射线显微镜/CT
全系列TEM制样设备
TEM原位分析系统
SEM样品离子抛光系统
全系列超薄切片机
实验室工具和耗材
自然资源/新能源材料
产品列表PRODUCTS
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Lyncean CLS 紧凑型光源
商品化的紧凑型实验室同步辐射光源
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MerlinEM混合像素探测器
MerlinEM混合像素探测器(Hybrid Pixel Detector, HPD) 是电子显微镜领域先进探测器的更新技术发展,它以像素化格式将电子直接探测和快速读出技术结合在一起,是适用于4D STEM和TEM动态成像等应用的理想技术方案。在这种新型探测器中,每个传感器像素分别与智能芯片相连,该芯片使用阈值鉴别器将电子与背景区分开来,有效地消除了所有读出噪声。这一技术可进行加和模式成像,采集多个短曝光图像并相加在一起。更独特的是,相邻像素可以通讯以减轻荷电共享效应,这与电子的直接检测相结合,从而产生了更高的性能。当束流能量下降至60 keV时,MerlinEM能提供接近理想的DQE和MTF探测器响应。
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ATMOSPHERE 原位加热和气体反应腔
在TEM内实现气体和加热环境
兼容任何电镜
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POSEIDON SELECT 原位液体加热和电化学系统
在TEM上直接观察液体中你从未想过可能看到的东西
液体中纳米颗粒的分布与组成
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FUSION 原位加热和电学系统
材料研究:热性能和电性能表征
分析结果与TEM & SEM成像以及其他分析工具相关联
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XRE UniTOM 通用型500nm分辨率X射线显微镜/CT
模块化设计、配置灵活的亚微米分辨率3D X射线成像系统
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XRE DynaTOM 超高速扫描微米分辨率X射线显微镜/CT
超高速的微米分辨率三维X射线成像显微镜CT,几秒内完成一个扫描
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XRE CoreTOM 微米分辨率岩心扫描X射线显微镜/CT
全尺寸岩心扫描,最大样品600mm(直径) x 1150mm(长),分辨率高达3微米
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ASTAR TEM晶体取向和相分布分析系统
-- 在TEM上实现SEM-EBSD功能。分辨率高达1nm。纳米尺度晶体取向、相分布、非晶分布、晶粒尺寸、晶界、孪晶等分析。
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DigiSTAR/ADT-3D TEM旋进电子衍射和电子衍射三维重构分析系统
—— 应用于纳米晶体晶体结构分析的电子晶体学最新技术和工具
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ATUMtome 全自动收片超薄切片机
The ATUMtome tape collecting ultramicrotome
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Powertome-XL 超薄切片机
PowerTome-XL Ultramicrotomes
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