XRE UniTOM 通用型500nm分辨率X射线显微镜/CT

XRE UniTOM 通用型500nm分辨率X射线显微镜/CT

添加时间:2017-09-30 11:57:00

独特技术优点

- 可根据用户应用领域进行优化设计

- 亚微米空间分辨率:空间分辨率达500nm

- 样品适应性:最大样品可达直径40cm,高50cm

- 样品内部局部断层扫描功能:对大尺寸样品的内部感兴趣区域进行三维扫描

- 模块化设计:根据用户应用选择X射线源和X射线探测器


    



主要技术参数 


UniTOM

UniTOMXL

X射线源

120 或 180 kV /25W

30~180 kV / 300W

X射线探测器

多选项探测器配置(根据应用配置) 

空间分辨率

0.5 μm 

2~3 μm 

最大样品 (Ø x h) 

400 mm x 400 mm 

600 mm x 500 mm 

最大样品重量

20 kg 

50 kg 

最高时间分辨率

<  10 seconds 

<  10 seconds 

自动化样品台

9样品台,安装在高精度大理石基座上

10样品台,安装在高精度大理石基座上

系统尺寸

0.9 x 2.3 x 2.1 m (WxLxH) 

1.5 x 2.3 x 2.1 m (WxLxH) 

系统重量

2800 kg 

4200 kg 

 


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