XRE UniTOM 通用型500nm分辨率X射线显微镜/CT
添加时间：2017-09-30 11:57:00
独特技术优点
- 可根据用户应用领域进行优化设计
- 亚微米空间分辨率：空间分辨率达500nm
- 样品适应性：最大样品可达直径40cm，高50cm
- 样品内部局部断层扫描功能：对大尺寸样品的内部感兴趣区域进行三维扫描
- 模块化设计：根据用户应用选择X射线源和X射线探测器
主要技术参数
UniTOM | UniTOMXL | |
X射线源 | 120 或 180 kV /25W | 30~180 kV / 300W |
X射线探测器 | 多选项探测器配置(根据应用配置) | |
空间分辨率 | 0.5 μm | 2~3 μm |
最大样品 (Ø x h) | 400 mm x 400 mm | 600 mm x 500 mm |
最大样品重量 | 20 kg | 50 kg |
最高时间分辨率 | < 10 seconds | < 10 seconds |
自动化样品台 | 9样品台，安装在高精度大理石基座上 | 10样品台，安装在高精度大理石基座上 |
系统尺寸 | 0.9 x 2.3 x 2.1 m (WxLxH) | 1.5 x 2.3 x 2.1 m (WxLxH) |
系统重量 | 2800 kg | 4200 kg |
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